Wir von OWIS verwirklichen die wegweisenden Ideen unserer Kunden und treiben den Fortschritt in Hightech-Industrien voran. Dabei setzen wir auf unsere hochwertigen Standardkomponenten, unsere herausragende
WeiterlesenAutor: Firma OWIS
Positioniertische mit Direktantrieb
Wir haben unser Sortiment an motorisierten Positioniertischen um eine neue Generation Linear- und Drehtische mit Direktantrieb angereichert. Sie vereinen sechs Vorzüge: Schnell: Konstante Geschwindigkeit von
WeiterlesenOWIS Positioniersysteme: Aufbau zur Bestimmung atomarer Abstände
An der TU Berlin ge-ang es der Arbeitsgruppe „Analytische Röntgenphysik“ von Prof. Dr. Birgit Kanngießer eine Methode zu entwickeln, die das Licht einer Röntgenröhre effizient
WeiterlesenErfolgreiche Hygiene bei Waschverfahren
Die Fluoreszenzspektroskopie nutzt Fluoreszenz-Phänomene zur Analyse von Substanzen. Sie unterscheidet sich von einigen anderen Spektroskopien, indem sie die Emission anstatt der Absorption der fluoreszierenden Strahlung
WeiterlesenOWIS Engineering – Plus mit System
Mit OWIS Engineering enorme Potentiale freilegen OWIS entwickelt und produziert optische Strahlführungs- und Positioniersysteme. Linearachsen, Kreuztische, Goniometer, Strahlführungssysteme, optische Komponenten – die Vielfalt und Kombinierbarkeit
WeiterlesenOWIS mit neuem Eigentümer
Die Firma OWIS aus Staufen im Breisgau, Spezialist für optische Strahlführungs- und Positioniersysteme, hat die Unternehmensnachfolge geregelt. Der bisherige Geschäftsführer und Gesellschafter Rüdiger Ruh übernimmt
WeiterlesenDas FXE Instrument am European XFEL
Femtosekundenschnelle Spektroskopie mit Röntgenstrahlung ist eine Aufgabe des European XFEL, eines 3,4 km langen Röntgenlasers in der Metropolregion Hamburg. Die FXE-Gruppe (Femtosecond X-Ray Experiments) beschäftigt
WeiterlesenApplikationsbericht „Linienlaser-Alignment“
Ein perfekt eingestellter Linienlaser soll eine homogene Linie abbilden (Abb. 1). Dies stellt die Laser-Hersteller vor verschiedene Herausforderungen, wie beispielsweise die Geradheit der Linie (Abb.
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